仪器分类
仪器设备 >
工学院 >
仪器详情
高分辨率X射线微型扫描系统
仪器编号
2017197001
规格
Skyscan 1275
生产厂家
Bruker
型号
*
制造国家
比利时
分类号
010399
放置地点
北京市海淀区清华东路17号中国农业大学东校区工学院
出厂日期
2020-06-02
购置日期
2018-06-15
入网日期
2019-12-25
主要规格及技术指标
Skyscan 1275技术指标：X射线源100kV，最高分辨率5μm，可对高达120mm，直径96mm的样品进行扫描
主要功能及特色
获取固态样品的三维立体图像及微结构参数
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
中国农业大学 版权所有 ©️2019 校备案号：242_19005 访问量：1103937 系统开发商：天津市基理科技股份有限公司