仪器分类
高分辨率X射线微型扫描系统
高分辨率X射线微型扫描系统
仪器编号
2017197001
规格
Skyscan 1275
生产厂家
Bruker
型号
制造国家
比利时
分类号
010399
放置地点
北京市海淀区清华东路17号中国农业大学东校区工学院
出厂日期
2020-06-02
购置日期
2018-06-15
入网日期
2019-12-25

主要规格及技术指标

Skyscan 1275技术指标:X射线源100kV,最高分辨率5μm,可对高达120mm,直径96mm的样品进行扫描

主要功能及特色

获取固态样品的三维立体图像及微结构参数

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期